元器件高低温测试装置在用于恶劣环境的半导体电子元件的制造中,IC封装组装和工程和生产的测试阶段包括在温度(-85℃至+ 250℃)下的电子冷热测试和其他环境测试模拟。chiller unit元器件冷却系统测试故障解决办法
更新时间:2025-01-12
厂商性质:生产厂家
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